1、導(dǎo)致焊接后測(cè)試探針接觸不良的因素

電路板線內(nèi)測(cè)試時(shí)，有可能因?yàn)榛睾笟埩舳a(chǎn)生接觸不良的問(wèn)題，這當(dāng)然是因?yàn)闇y(cè)試探針與測(cè)試焊墊或焊點(diǎn)間出現(xiàn)了絕緣的殘留物。由于破壞臭氧層以及工作健康安全的考慮，同時(shí)也包括要嘗試節(jié)約成本，因此免洗制程技術(shù)迅速地成為SMT組裝的主流技術(shù)。能免除清洗程序不但可以避免因使用清洗劑造成的污染，而且也排除了清洗的步驟工序與所有的必要成本。

另外為了進(jìn)一步提升免洗制程的優(yōu)勢(shì)，已經(jīng)逐步不用波焊技術(shù)而只采用回焊處理。但是在業(yè)界所產(chǎn)生的主要問(wèn)題不是電路板焊接特性或產(chǎn)品的可靠度，而是線內(nèi)測(cè)試的問(wèn)題。由于在電路板上有助焊劑殘留物，探針可能無(wú)法刺穿殘留物，或者很快就被殘留物沾附而終致不能產(chǎn)生電氣連接。尤其是測(cè)試位置在引腳末端或通孔零件引管腳末端的部分，這種狀況會(huì)更嚴(yán)重。顯然助焊劑殘留物，是這個(gè)問(wèn)題最重要的影響原因之一。

當(dāng)然也有人提到可以用加大探針壓力來(lái)克服這個(gè)問(wèn)題，但是面對(duì)可能損及產(chǎn)品焊接點(diǎn)以及探針本身，同時(shí)整體的作業(yè)成本與治具的壽命也都考驗(yàn)著這樣做法的適用性。

2、避免的方法

經(jīng)由電路板測(cè)試機(jī)對(duì)錫膏殘留物量的影響研究發(fā)現(xiàn)，設(shè)備可探測(cè)性與探針穿透性，對(duì)以空氣回焊的系統(tǒng)而言，焊墊可探測(cè)性會(huì)隨殘留物數(shù)量的遞增而下降。這種結(jié)果是可以理解的，因?yàn)榱粼诤笁|上的助焊劑殘留物愈多探針越不能產(chǎn)生有效連結(jié)。下圖所示，為典型的助焊劑殘留的狀態(tài)。山東芯演欣電子科技發(fā)展有限公司    聯(lián)系電話：18865375835

但是這種趨勢(shì)無(wú)法判斷引腳末端的探測(cè)性及通孔的穿透性，在這些區(qū)域錫膏殘留物數(shù)量就不一定是主要因素，而是別的性質(zhì)控制了探針可測(cè)性。這些性質(zhì)包括：助焊劑殘留物的頂部擴(kuò)散、底部擴(kuò)散、硬度等等因素。

在頂部助焊劑擴(kuò)散方面，助焊劑擴(kuò)散性越好焊墊上殘留物就愈少，有理由推估焊墊的可探測(cè)性會(huì)隨擴(kuò)散性的遞增而增加。但是在實(shí)際的狀況下，所發(fā)生的現(xiàn)象與推測(cè)相反，頂部助焊劑擴(kuò)散性與焊墊可探測(cè)性成反比。

這種反常的狀況是因?yàn)榱硗庖粋€(gè)影響因素所致，高殘留物量的錫膏不但對(duì)助焊劑的擴(kuò)散性有影響，同時(shí)也對(duì)焊墊上產(chǎn)生較厚的殘留物沈積，這樣才導(dǎo)致較低的焊墊可探測(cè)值產(chǎn)生。

在底部助焊劑擴(kuò)散方面，雖然與焊墊可探測(cè)性或通孔穿透性沒(méi)有直接的趨勢(shì)可以區(qū)別，但它與引腳末端的可探測(cè)性的確存在著明顯的關(guān)系。引腳的可探測(cè)性值底部助焊劑擴(kuò)散遞增而增加，也隨殘留物量下降而增加。

這樣現(xiàn)象的理論基礎(chǔ)是滴下機(jī)構(gòu)，在電路板焊接時(shí)錫膏殘留物會(huì)有低固含量和低黏度。在通孔中低的黏度將讓助焊劑從錫膏中流出，并在底面周邊迅速地?cái)U(kuò)散。助焊劑在底面進(jìn)一步擴(kuò)散，就會(huì)有較少的助焊劑堆積在引腳處，因此測(cè)試探針很容易可以穿透。