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AOI光學(xué)檢測(cè)儀原理及應(yīng)用

作者:sdxyx    發(fā)布時(shí)間:2022-04-19 08:12:05    瀏覽量:

人認(rèn)識(shí)物體是通過光線反射回來的量進(jìn)行判斷,反射量多為亮,反射量少為暗。AOI與人判斷原理相同。 AOI通過人工光源LED燈光代替自然光,光學(xué)透鏡和CCD代替人眼,把從光源反射回來的量與已經(jīng)編好程的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較、分析和判斷。

AOI工作原理

SMT中應(yīng)用AOI技術(shù)的形式多種多樣,但其基本原理是相同的(如圖1所示),即用光學(xué)手段獲取被測(cè)物圖形,一般通過一傳感器(攝像機(jī))獲得檢測(cè)物的照明圖像并數(shù)字化,然后以某種方法進(jìn)行比較、分析、檢驗(yàn)和判斷,相當(dāng)于將人工目視檢測(cè)自動(dòng)化、智能化。

不同AOI軟、硬件設(shè)計(jì)各有特點(diǎn),總體來看,其分析、判斷算法可分為2種,即設(shè)計(jì)規(guī)則檢驗(yàn)(DRC)和圖形識(shí)別檢驗(yàn)。 

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(1) DRC法是按照一些給定的規(guī)則檢測(cè)圖形。如以所有連線應(yīng)以焊點(diǎn)為端點(diǎn),所有引線寬度、間隔不小于某一規(guī)定值等規(guī)則檢測(cè)PCB電路圖形。DRC方法具有可以從算法上保證被檢驗(yàn)的圖形的正確性,相應(yīng)的AOI系統(tǒng)制造容易,算法邏輯容易實(shí)現(xiàn)高速處理,程序編輯量小,數(shù)據(jù)占用空間小等特點(diǎn),但該方法確定邊界能力較差,往往需要設(shè)計(jì)特定方法來確定邊界位置。  

(2)圖形識(shí)別法是將AOI系統(tǒng)中存儲(chǔ)的數(shù)字化圖形與實(shí)驗(yàn)檢測(cè)圖像比較,從而獲得檢測(cè)結(jié)果,如檢測(cè)PCB電路時(shí),首先按照一塊完好的PCB或根據(jù)計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)模型建立起檢測(cè)


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